透射電鏡雙傾熱電原位系統通過(guò)MEMS芯片在原位樣品臺內構建熱、電復合多場(chǎng)自動(dòng)控制及反饋測量系統，結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實(shí)現從納米甚至原子層面實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監測樣品在真空環(huán)境下隨溫度、電場(chǎng)變化產(chǎn)生的微觀(guān)結構、相變、元素價(jià)態(tài)、微觀(guān)應力以及表/界面處的原子級結構和成分演化等關(guān)鍵信息。

透射電鏡高傾角熱電原位系統通過(guò)MEMS芯片對樣品施加熱場(chǎng)、電場(chǎng)控制，在高傾角樣品臺內構建熱電復合多場(chǎng)自動(dòng)控制及反饋測量系統，結合使用EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實(shí)現從納米甚至原子層面實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監測樣品在真空環(huán)境下隨溫度、電場(chǎng)變化產(chǎn)生的微觀(guān)結構、相變、元素價(jià)態(tài)、微觀(guān)應力以及表/界面處的原子級結構和成分演化等關(guān)鍵信息。

透射電鏡雙傾光熱原位系統通過(guò)MEMS芯片和光纖引入的光源在原位樣品臺內構建熱、光復合多場(chǎng)自動(dòng)控制及反饋測量系統，結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實(shí)現從納米甚至原子層面實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監測樣品在真空環(huán)境下隨溫度、光場(chǎng)變化產(chǎn)生的微觀(guān)結構、相變、元素價(jià)態(tài)、微觀(guān)應力以及表/界面處的原子級結構和成分演化等關(guān)鍵信息。